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                行業新聞
                • 美國brookfield觸屏流變儀〖RST-CPS介紹 美國brookfield觸屏流變儀RST-CPS 給客戶的較好選擇一同時具有控卐制剪切率(轉速rpm )和剪切應力(扭矩torque )兩々種模式的觸屏流變儀,特別適 用於復雜流□ 變分析。應用自動數據采集和分析╱的Rheo3000軟件,與同類型同價位的其他 流變儀相▲比,具有更多的選擇性和靈活】性√.R/S 流變儀擁有便〓捷的轉子附件和易於清潔的表面,設計『持久耐用,可◣長期無故障運行。從簡單的單點粘度測量到綜合流◣
                  發布時間:2019-08-08 11:05 點擊次數:109 次
                • 梅特勒-托利多動態機械分析儀DMA/SDTA 1+ 梅特勒-托利多動態機械分析儀DMA/SDTA1+ 動態機械分析儀樹立ㄨ了市場新標準。 與傳統型 DMA 儀器相比,它在性能方面具有新的和獨特的優點: DMA/SDTA1+ 動態機◤械分析儀頻率範圍高可達 1000 Hz,可模擬材料行為,並可通過一臺專用力傳感器準確測定模量。 產品規格 溫度準確度(±):0.5 K 力值範圍:1 mN – 40 N 溫度範圍:-150 °C –
                  發布時間:2019-08-06 13:58 點擊次數:61 次
                • 梅特勒-托利多同步熱分析★儀TGA/DSC 1 同步熱分析儀TGA/DSC 1 高分辨率 –對整個測量範圍的超微克分辨率 高效自動化 –非常可靠的自動進樣器能處理大理樣品 廣泛的測◤量範圍 –大小樣品量均可測量 溫度範圍廣 –分析樣〒品的溫度從環境溫度到 1600 °C 梅特勒-托≡利多超微量天平 – 依賴優越的天平技術 DSC 熱流測量 -同步測定熱效應 密封單元 –確保有一個完全定義的測量環境 聯用技術 –使用 MS 和 FTIR 分析逸出氣∮體
                  發布時間:2019-08-04 17:06 點擊次數:63 次
                • 美國brookfield觸屏流變儀產品特點 美國brookfield觸屏流變儀RST-CPS 給¤客戶的較好選擇一同時具有控制剪切率(轉速rpm )和剪切應力(扭矩torque )兩種模式的觸屏流變儀,特別適 用於復雜流變①分析。應用自動數據采集和分析的Rheo3000軟件,與同類型同價位的其他 流變儀相比,具有更多的選擇性和靈活性.R/S 流變儀擁〗有便捷的轉子附件和易於清潔的表面,設計持久♀耐用,可長期無故障運行。從簡單的單點粘度測量到綜合流
                  發布時間:2019-08-02 10:53 點擊次數:64 次
                • 梅特勒-托利多差示掃描量熱儀介紹 DSC 3+ 差示掃描『量熱儀產品介紹 由於采用了模↓塊化設計,DSC 3+ 作為梅特勒-托利多熱分析超越系列的一個組成部分,是人工或自動操作較佳選擇,適用於從生產到質量保證和技術研發。 采用配有 120 對熱電偶型 DSC 傳感器,可確保具有較佳的靈敏度與分辨率。 DSC 3+ 差示掃描量熱儀產品規格 溫度範圍:-150 to 700 °C 傳感器:FRS 6+ with
                  發布時間:2019-07-31 11:04 點擊次數:95 次
                • 梅特勒托利多TGA 2熱重分析儀產品應用 TGA 2熱重分△析儀產品介紹 TGA 2 (LF) 提供無縫的工作流程,它僅需要ω 極少的用戶操作便可啟動常規分析。 我們的TGA儀器采用@全球*佳的微量天平和超微量天平,這些天平提供的結果具有無與倫比的**性。 由於其模塊化設∩計,TGA 2 (LF)成為需要◥簡單操作和高樣品處理率的工作場所中理想的人工或自動操作儀器。 TGA 2熱重分析儀產品規格 溫度範圍: RT to 1
                  發布時間:2019-07-30 18:11 點擊次數:68 次
                • 美國博勒飛Brookfield DV3T流變儀介↘紹 美國博勒飛Brookfield DV3T流變儀介紹 技術參數 精度:測量範圍的±1% 重現性:±0.2% 美國博勒飛Brookfield DV3T流變儀介紹 -主要特點 測量粘※度和屈服應力的一體化工具 連續感應和顯示的流變儀 7英寸全彩色觸屏顯↘示 加強ξ型安全控制:自定義用戶使用權限、日期和時間標記文件、密碼鎖定功能、便攜式登錄設置
                  發布時間:2019-07-24 14:39 點擊次數:106 次
                • 實驗室電子天平校準基礎知◇識 實驗室電子天平校準基礎知識 ——梅特勒-托利多 1. 哪些允差適用於天▓平校準? 允差用於確定天平或秤是否測量足夠好,可達到一套特定的過程要求。允差設置了發出通過/未通過聲√明的標準。允差有各種︼來源,包括法↑定機構、制造業和過程本身。 法定允差:OIML R76或NIST手冊44(限美國)規定的法定允差用於評估合法貿易★品要求。這∏些允差非常大,使用實驗室天平或者在測量範圍的低端進行稱量時,可
                  發布時間:2019-07-22 09:59 點擊次數:179 次
                • 光學儀器旋光儀影╲響因素 光學儀器◥旋光儀影響因素 (1)溶劑 旋光物質的旋光度主要取決於物質本身的結構。另外,還與光線透過物質的厚度↘,測量時所用光的波長和溫度有關。如果被測物質是溶液,影響因素還包括物質●的濃度,溶劑也有一定的影▽響。因此旋光物質的旋光度,在不同的條件下,測定結果通常不一◇樣。 (2)溫度 溫度升高會使旋光管膨脹而長度加長,從而導致待測液體的密度降低。另外,溫度變化還會使待測物質分子間發生締合
                  發布時間:2019-07-17 13:59 點擊次數:76 次
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